在进行纳米级测量两个导体的表面形貌时,常采用的测量仪器为()

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在进行纳米级测量两个导体的表面形貌时,常采用的测量仪器为()

A.电镜

B.扫描隧道显微镜

C.图像处理技术

正确答案:A

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