关于设备中的自由金属粒子缺陷,下列说法错误的是____。浏览:351 关于设备中的自由金属粒子缺陷,下列说法错误的是____。A.金属粒子在设备中跳动时会伴随着局部放电B.在局部放电相位图谱中,没有相位相关性C.运行条件下,用橡皮锤敲击设备,可能会使金属粒子跳跃导致设备故障击穿D.特高频检测自由金属粒子缺陷比超声波法检测灵敏度高 【正确答案】A、B、D 相关文章 特高频局放检测方法与脉冲电流法的检测结果具有一一对应的关系,可以将特高频检测的结果转化为应用pC为单位的视在放电量来进行描述。 特高频局放检测方法与脉冲电流法的检测结果具有一一对应的关系,可以将特高频检测的结果转化为应用pC为单位的视在放电量来进行描述。A.正确B.错误 【正确答案】B 特高频与超声波局放检测技术不可联合应用于变压器的带电检测。 特高频与超声波局放检测技术不可联合应用于变压器的带电检测。A.正确B.错误 【正确答案】B 特高频局放检测技术可用于GIS的带电检测。 特高频局放检测技术可用于GIS的带电检测。A.正确B.错误 【正确答案】A 特高频局放检测技术可用于电缆本体的带电检测。 特高频局放检测技术可用于电缆本体的带电检测。A.正确B.错误 【正确答案】B 特高频法局部放电检测不可用于高压电缆的带电检测。 特高频法局部放电检测不可用于高压电缆的带电检测。A.正确B.错误 【正确答案】B